Ace測量臂和Skyline掃描器
符合最新的I5O標準並與市場上領先的軟體相容,滿足日益嚴格的精度和生產要求。
ACE系列包括兩種型號:ACE和ACE+測量臂。
ACE+測量臂採用最新的編碼器技術,同时擁有先進的校準方法,保證其出色性能。
ACE系列測量臂使用便捷,可用於任何工作環境:車間、測量實驗室、室外場所以及諸多高科技行業,例如汽車和航空業。
ACE 測量臂系列
精確為您
得益於科技創新和最先進的製造技術・Kreon® ACE系列測量臂為掃描和點測提供了先進的3D測量解決方案。
符合最新的I5O標準並與市場上領先的軟體相容,滿足日益嚴格的精度和生產要求。
ACE系列包括兩種型號:ACE和ACE+測量臂。
ACE+測量臂採用最新的編碼器技術,同时擁有先進的校準方法,保證其出色性能。
ACE系列測量臂使用便捷,可用於任何工作環境:車間、測量實驗室、室外場所以及諸多高科技行業,例如汽車和航空業。
7軸和6軸
Kreon ACE 測量臂分為6軸和7軸。每一款均有它的特别優勢。
6軸適合點測方案
- 高精度點測方案的完美選擇
- 同等尺寸下,比7軸測量臂更精確
- 臂端的緊湊人體工程學設計為狹窄測量提供了便利
- 相容Kreon 掃描器(Zephyr和Solano 系列)
7軸適合掃描方案
- 附加關節軸優化掃描使用感
- 與Skyline 3D掃描器直接集成
- 掃描和點測間輕易轉換
- 可在相同的測量範圍內進行掃描和點測
- 掃描精度高達45 μm

ACE SKYLINE掃描臂
Ace Skyline 集合了科瑞朗(Kreon)最尖端的兩款產品:Ace 測量臂和Skyline 3D掃描器, 該高性能方案可用於接觸和非接觸式檢測。
Skyline掃描器能在眨眼之間數位化呈現任何物體,它符合人體工程學,可輕鬆實現掃描, 精確反映複雜物件的最小細節,並能與Ace測量臂完美結合。
節省更多時間
掃描任何物體
隨時隨地掃描
自由切換
高精度Skyline 掃描器用於自由形狀零件,集成於掃描器下方的探針用於幾何元素。

同一系列三款掃描器
Skyline系列掃描器集成了近30年來Kreon所開發的各項高科技技術。此外,其傑出的性能 使設備更加可靠,穩定,堅固,並且適用於大多數工作環境。
基於同一技術平臺,Skyline 3D掃描器擁有三款型號:Skyline Eyes、Wide 和 Open
超高掃描速度 200mm* 雷射線
- 200 mm的雷射線減少掃描次數
- 更高頻率保證3D掃描器移動更敏捷
- 600,000 點/秒的採集速度,快速獲取密集點雲
- 人體力學“推 - 拉”手柄提高掃描效率
高解析度 25μm*、高精度 9μm*
- 每條雷射線2000點的高精度水準
- 藍色雷射優化精度,即使在亮色反光表面
- 掃描器的溫度補償功能,避免預熱並保持精度穩定
使用簡便
- 輕巧的3D掃描器(少於400 克)令掃描時間更長結
- 構緊湊,可以到達並掃描每個部件的複雜區域
- LED指示燈精確顯示理想的掃描距離 快速取下掃描器,無需任何工具即可安裝探針
點測和掃描使用軟體:
Polyworks, Metrolog, Geomagic, PowerInspect, Capps, etc

使用 “EYES WIDE OPEN”捕捉真實細節
SKYLINE 掃描器系列
應用
Kreon滿足了客戶對品質控制,3D測量,偏差可視的需求和期望,多年來一直提供高效的測量解決方案。
Ace Skyline優化所有3D測量過程
技術參數
ACE 測量臂
ACE+ 測量臂

ACE測量臂搭配 SKYLINE掃描儀
ACE系列測量臂符合ISO 10360-12標準.
根據ISO 10360-12,2016標準:
EUNI (EUni:0:Tact.AArm) : 長度測量的最大允許誤差
PSIZE (PSize.Sph.1x25:Tact.AArm) : 接觸式球體直徑的最大允許誤差 PFORM (PForm.Sph.1x25::Tact.AArm): 接觸式球體形狀的最大允許誤差 LDIA (LDia.5x5:Art:Tact.AArm) : 接觸式球體位置的最大允許誤差
SPAT : 單點擺臂精度
SKYLINE系列掃描器符合ISO 10360-8標準.
根據ISO 10360-8:2013標準:
LDIA scanning (LDia:j:ODS) : 掃描式球體位置的最大允許誤差
*1 MPE (P[Size.Sph.All:Tr:ODS]) : 完整取點球體最大誤差(位移模式)
*2 MPL (P[Form.Sph.D95%:Tr:ODS]) : 球體95%取點最大標準差 (位移模式) *3 MPL (P[Form.Pla.D95%:Tr:ODS]) : 平面95%取點最大標準差 (位移模式)