• Ace測量臂和Skyline掃描器

Ace測量臂和Skyline掃描器

得益於科技創新和最先進的製造技術・Kreon®ACE系列測量臂為掃描和點測提供了先進的3D測量解決方案。
符合最新的I5O標準並與市場上領先的軟體相容,滿足日益嚴格的精度和生產要求。
ACE系列包括兩種型號:ACE和ACE+測量臂。
ACE+測量臂採用最新的編碼器技術,同时擁有先進的校準方法,保證其出色性能。
ACE系列測量臂使用便捷,可用於任何工作環境:車間、測量實驗室、室外場所以及諸多高科技行業,例如汽車和航空業。
型號 : Ace series


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ACE 測量臂系列 

精確為您


得益於科技創新和最先進的製造技術・Kreon® ACE系列測量臂為掃描和點測提供了先進的3D測量解決方案。

符合最新的I5O標準並與市場上領先的軟體相容,滿足日益嚴格的精度和生產要求。

ACE系列包括兩種型號:ACE和ACE+測量臂。

ACE+測量臂採用最新的編碼器技術,同时擁有先進的校準方法,保證其出色性能。

ACE系列測量臂使用便捷,可用於任何工作環境:車間、測量實驗室、室外場所以及諸多高科技行業,例如汽車和航空業。







7軸和6軸

Kreon ACE 測量臂分為6軸和7軸。每一款均有它的特别優勢。

6軸適合點測方案

    • 高精度點測方案的完美選擇
    • 同等尺寸下,比7軸測量臂更精確 
    • 臂端的緊湊人體工程學設計為狹窄測量提供了便利 
    • 相容Kreon 掃描器(Zephyr和Solano 系列)


7軸適合掃描方案

    • 附加關節軸優化掃描使用感
    • 與Skyline 3D掃描器直接集成 
    • 掃描和點測間輕易轉換 
    • 可在相同的測量範圍內進行掃描和點測 
    • 掃描精度高達45 μm




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ACE SKYLINE掃描臂

Ace Skyline 集合了科瑞朗(Kreon)最尖端的兩款產品:Ace 測量臂和Skyline 3D掃描器, 該高性能方案可用於接觸和非接觸式檢測。

Skyline掃描器能在眨眼之間數位化呈現任何物體,它符合人體工程學,可輕鬆實現掃描, 精確反映複雜物件的最小細節,並能與Ace測量臂完美結合。



節省更多時間

可靠、強大且易於操作的系統,令人難以置信的採集速度。


掃描任何物體

昏暗或明亮,啞光或閃光,微小或龐大,或所有合一。 靈活移動,可觸及封閉或複雜物件的內部和後部。


隨時隨地掃描

溫補功能令其在檢測實驗室、工廠、生產機器甚至室外均可使用。


自由切換

高精度Skyline 掃描器用於自由形狀零件,集成於掃描器下方的探針用於幾何元素。


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同一系列三款掃描器

Skyline系列掃描器集成了近30年來Kreon所開發的各項高科技技術。此外,其傑出的性能 使設備更加可靠,穩定,堅固,並且適用於大多數工作環境。

基於同一技術平臺,Skyline 3D掃描器擁有三款型號:Skyline Eyes、Wide 和 Open


超高掃描速度 200mm* 雷射線 

    • 200 mm的雷射線減少掃描次數
    • 更高頻率保證3D掃描器移動更敏捷
    • 600,000 點/秒的採集速度,快速獲取密集點雲 
    • 人體力學“推 - 拉”手柄提高掃描效率



高解析度 25μm*、高精度 9μm*

    • 每條雷射線2000點的高精度水準 
    • 藍色雷射優化精度,即使在亮色反光表面 
    • 掃描器的溫度補償功能,避免預熱並保持精度穩定



使用簡便

    • 輕巧的3D掃描器(少於400 克)令掃描時間更長結 
    • 構緊湊,可以到達並掃描每個部件的複雜區域 
    • LED指示燈精確顯示理想的掃描距離 快速取下掃描器,無需任何工具即可安裝探針



點測和掃描使用軟體:

Polyworks, Metrolog, Geomagic, PowerInspect, Capps, etc


*最大值取決於Skyline掃描器型號



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使用 “EYES WIDE OPEN”捕捉真實細節

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SKYLINE 掃描器系列

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應用

Kreon滿足了客戶對品質控制,3D測量,偏差可視的需求和期望,多年來一直提供高效的測量解決方案。



Ace Skyline優化所有3D測量過程

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技術參數


ACE 測量臂

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ACE+ 測量臂

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ACE測量臂搭配 SKYLINE掃描儀

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ACE系列測量臂符合ISO 10360-12標準.

根據ISO 10360-12,2016標準:
EUNI (EUni:0:Tact.AArm) : 長度測量的最大允許誤差
PSIZE (PSize.Sph.1x25:Tact.AArm) : 接觸式球體直徑的最大允許誤差 PFORM (PForm.Sph.1x25::Tact.AArm): 接觸式球體形狀的最大允許誤差 LDIA (LDia.5x5:Art:Tact.AArm) : 接觸式球體位置的最大允許誤差
SPAT : 單點擺臂精度

SKYLINE系列掃描器符合ISO 10360-8標準.

根據ISO 10360-8:2013標準:
LDIA scanning (LDia:j:ODS) : 掃描式球體位置的最大允許誤差
*1 MPE (P[Size.Sph.All:Tr:ODS]) : 完整取點球體最大誤差(位移模式)
*2 MPL (P[Form.Sph.D95%:Tr:ODS]) : 球體95%取點最大標準差 (位移模式*3 MPL (P[Form.Pla.D95%:Tr:ODS]) : 平面95%取點最大標準差 (位移模式)